Rise-3002型顆粒圖像儀介紹
點(diǎn)擊次數(shù)：2600 更新時(shí)間：2008-11-01
Rise-3002型顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進(jìn)行處理分析，具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測試范圍寬等特點(diǎn)?？梢杂^察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果。
技術(shù)參數(shù)：
1、 測量范圍：1～3000微米
2、 zui大光學(xué)放大倍數(shù)：1600倍
3、 zui大分辨率：0.1微米/像素
4、 準(zhǔn)確性誤差：< ±3%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))
5、 重復(fù)性偏差：< ±3%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))
6、 數(shù)據(jù)輸出：周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當(dāng)徑分布、面積相當(dāng)徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間徑（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60）、D30、D97、個數(shù)長度平均徑、個數(shù)面積平均徑、個數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。